Ingénieur Polytech LilleCycle préparatoire (PeiP)Cycle IngénieurMécanique Génie Informatique et Statistique GéoTechnique Génie Civil Génie Biologique et Alimentaire Ingénieur d’Exploitation des Systèmes de Production Informatique Microélectronique Automatique Ingénierie et Commercialisation des systèMes de Mesure Matériaux

---

Mastère spécialisé en Génie de l'EauProfessionnels intervenantsEtudes bibliographiquesStages en entrepriseDébouchés

---

Formations hébergées à l'école

Admissions

   

Semestre 9
  UE 9.6 Imagerie (415600)
    Imagerie de surface (415320)

Enseignant(s) : L. Duponchel

ECTS : 2

Objectifs à atteindre

L?étudiant doit être capable de proposer une spectroscopie adaptée pour la caractérisation de l?extrême surface des matériaux solides pouvant aller jusqu?à la première couche mono-atomique.

Programme détaillé

Ce cours propose de faire un état des lieux assez exhaustif sur les spectroscopies d?analyse de surface des matériaux. Après une introduction sur la notion de surface, les quatre techniques les plus significatives du domaine seront ainsi développées :
LA SPECTROSCOPIE DE PHOTOELECTRONS INDUITS PAR RAYONS X (XPS-ESCA)
Quelques rappels sur la structure de l'atome et le rayonnement électromagnétique, le photon, l'atome, l'effet photoélectrique et l'XPS, l'instrumentation XPS, principe général, la source, l'analyseur, les phénomènes de désexcitation, le déplacement chimique, phénoménologie, polarisation des liaisons et modèle à potentiel, analyse de surface : aspects quantitatifs, l'équation fondamentale, le libre parcours, le traitement des données spectrales, applications
LES SPECTROSCOPIES AUGER : AES ET XAES
Introduction, principe général , la spectroscopie AES, le traitement des spectres AES, le déplacement chimique, l'analyse quantitative en AES, l'imagerie Auger : La microsonde Auger (SAM = Scanning Auger Microprobe), l?instrumentation AES, les sources d'électrons, l'analyseur, les détecteurs AES, le spectromètre AES moderne.
LA SPECTROMETRIE DE MASSE D'IONS SECONDAIRES (SIMS)
Introduction, principe, l'instrumentation SIMS, historique, les sources d'ions primaires, la colonne d'ions primaires, l?extraction et transfert des ions secondaires, l'analyseur d'énergie, l'analyseur de masse, les détecteurs d'ions, le rendement de pulvérisation, les rendements ioniques, les aspects quantitatifs du SIMS, le SIMS moléculaire, le profil de profondeur, l'imagerie SIMS.
LA SPECTROSCOPIE D'IONS RETRODIFFUSES (ISS ou LEIS)
Retrodiffusion ionique élastique, l'équation fondamentale, la résolution des spectres ISS, aspects quantitatifs de l'ISS, intensité des signaux de rétrodiffusion, la section efficace de rétrodiffusion, la probabilité de neutralisation, les effets d'écran, l'instrumentation ISS.

Pré-requis

Connaissances de base sur la structure des matériaux solides.

Volume horaire

Total :	30h
Cours :	28h
TD :	0h
TP :	0h
Tutorat :	0h
DS :	2h

---